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測鍍層X熒光光譜儀知多少！

更新時間：2019-11-20 點(diǎn)擊次數(shù)：5296

測鍍層X熒光光譜儀可全自動軟件操作，可多點(diǎn)測試，由軟件控制儀器的測試點(diǎn)，以及移動平臺。是一款功能強(qiáng)大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

　　一、性能特點(diǎn)：

　　滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求

　　φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求

　　高精度移動平臺可定位測試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm

　　采用高度定位激光，可自動定位測試高度

　　定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊

　　鼠標(biāo)可控制移動平臺，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)

　　高分辨率探頭使分析結(jié)果更加

　　良好的射線屏蔽作用

　　測試口高度敏感性傳感器保護(hù)

　　二、應(yīng)用領(lǐng)域：

　　黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.

　　金屬鍍層的厚度測量,電鍍液和鍍層含量的測定。

　　主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。

　　三、技術(shù)指標(biāo)：

　　元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。

　　一次可同時分析較多24個元素，五層鍍層。

　　分析檢出限可達(dá)2ppm，較薄可測試0.005μm。

　　分析含量一般為2ppm到99.9%。

　　鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

　　任意多個可選擇的分析和識別模型。

　　相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。

　　多變量非線性回收程序

　　多次測量重復(fù)性可達(dá)0.1%

　　長期工作穩(wěn)定性可達(dá)0.1%

　　度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。

　　以上就是測鍍層X熒光光譜儀的性能特點(diǎn)及應(yīng)用領(lǐng)域，希望能幫助大家更好地了解測鍍層X熒光光譜儀。